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1、什么是低溫測(cè)試？

低溫環(huán)境對(duì)材料及設(shè)備的主要影響有：1）使材料發(fā)硬變脆；2）潤(rùn)滑劑粘度增加，流動(dòng)能力降低，潤(rùn)滑作用減?。?/span>3）電子元器件性能發(fā)生變化；4）水冷凝結(jié)冰；5）密封件失效；6）材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。低溫條件下試件的失效模式有：產(chǎn)品所使用零件、材料在低溫時(shí)可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。

低溫測(cè)試目的是檢驗(yàn)試件能否在長(zhǎng)期的低溫環(huán)境中儲(chǔ)藏、操縱控制，是確定軍民用設(shè)備在低溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性及耐久性。低溫測(cè)試主要用于科研研究、醫(yī)療用品的保存、生物制品、遠(yuǎn)洋制品、電子元件、化工材科等特殊材料的低溫實(shí)驗(yàn)及儲(chǔ)存。

低溫測(cè)試包括溫度漸變的低溫試驗(yàn)和在指定的恒定低溫范圍內(nèi)進(jìn)行的低溫試驗(yàn)，其主要應(yīng)用領(lǐng)域有電工電子產(chǎn)品以及海洋儀器等。

2、低溫測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)有哪些？

GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

GB/T 32065.2-2015海洋儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫試驗(yàn)

IEC 60068-2-1-2007環(huán)境試驗(yàn).第2-1部分:試驗(yàn).試驗(yàn)A：低溫

3、低溫測(cè)試的要點(diǎn)總結(jié)

（1）GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

適用范圍：本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無(wú)實(shí)質(zhì)性的差異，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備；本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力；本低溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB/T 2423. 22。本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)Ab，溫度漸變；散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)，

試驗(yàn)Ad,溫度漸變和試驗(yàn)Ae，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

1）試驗(yàn)Ab：非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)，本試驗(yàn)方法用來(lái)進(jìn)行非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。

將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。對(duì)于試驗(yàn)時(shí)需要通電運(yùn)行的試驗(yàn)樣品(即使它們不屬于散熱試驗(yàn)樣品），應(yīng)在試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定后通電，根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測(cè)。這種情況下，可能還需要一段時(shí)間達(dá)到溫度穩(wěn)定，然后試驗(yàn)樣品在該低溫條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。試驗(yàn)樣品通常在非工作狀態(tài)下進(jìn)行試驗(yàn)。本試驗(yàn)通常采用高氣流速度循環(huán)。

2）試驗(yàn)Ad：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)--試驗(yàn)樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電。本試驗(yàn)方法用來(lái)進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度溫度。

如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫的試驗(yàn)箱中，然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。給試驗(yàn)樣品通電或加電負(fù)載，檢查試驗(yàn)樣品以確定其功能是否符合相關(guān)規(guī)范的要求。試驗(yàn)樣品應(yīng)按照相關(guān)規(guī)范規(guī)定的工作循環(huán)和負(fù)載條件(如可行時(shí))處于運(yùn)行狀態(tài)。當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到相關(guān)規(guī)范規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。本試驗(yàn)通常采用低氣流速度循環(huán)。

3）試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)--試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。本試驗(yàn)方法用來(lái)進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程中通電。

  如果需要，可通過試驗(yàn)確定試驗(yàn)箱能否滿足低氣流速度的要求。將試驗(yàn)樣品放入溫度為試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，給試驗(yàn)樣品通電并根據(jù)需要進(jìn)行功能檢測(cè)。然后將溫度調(diào)節(jié)到符合相關(guān)規(guī)范規(guī)定的嚴(yán)酷等級(jí)溫度。當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定后，在該條件下暴露到規(guī)定的持續(xù)時(shí)間。本試驗(yàn)通常采用低氣流速度循環(huán)。

試驗(yàn)溫度：-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃

持續(xù)時(shí)間：2h、16h、72h、96h

試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定：對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行目視檢查以及相關(guān)規(guī)范要求的性能檢測(cè)

（2）GB/T 32065.2-2015海洋儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分：低溫試驗(yàn)

適用范圍：本部分規(guī)定了海洋儀器低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)要求、試驗(yàn)過程和相關(guān)信息；本部分用于考核或確定海洋儀器在低溫環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性，也可作為其零部件和組件的低溫環(huán)境試驗(yàn)的參考。

試驗(yàn)溫度：海洋儀器低溫試驗(yàn)應(yīng)從（-2±3）℃、（-10±3）℃、（-20±3）℃、（-55±3）℃和海洋儀器使用環(huán)境的最低溫度中選取。

試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間：試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后至少持續(xù)2h，或按相關(guān)規(guī)范進(jìn)行

試驗(yàn)結(jié)果評(píng)定：對(duì)試驗(yàn)樣品進(jìn)行外觀檢查、電性能、機(jī)械性能以及其他性能檢測(cè)，并與初始檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。